PST6747A - установка для испытаний полупроводниковых компонентов

Испытательная установка PST6747A - это профессиональная система для измерения и анализа статических параметров силовых полупроводниковых приборов, обеспечивающая комплексное решение для испытаний всех видов силовых полупроводниковых компонентов.
PST6747A может точно измерять и анализировать статические параметры силовых полупроводниковых приборов напряжением до 3 кВ (10 кВ, опционально) и током до 2200 А. PST6747A поддерживает высокую частоту импульсов, возможность определения тока на уровне фА и обладает превосходными возможностями измерения напряжения и тока в широком диапазоне. Эти функции могут использоваться для испытаний современных компонентов, таких как IGBT из новых материалов, таких как GaN и SiC.
PST6747A состоит из независимых источников питания: P6701B – прецизионный источник высокого напряжения 3 кВ), P6703B (прецизионный источник) и P6705A (прецизионный источник тока 2200 А) и др. Каждый модуль питания оснащен двумя отдельными аналого-цифровыми преобразователями с частотой дискретизации 2 мкс. Управление каждого модуля осуществляется независимо, при этом точно синхронизируется нажатия на клавиши, чтобы исключить влияние на измеряемые характеристики полупроводника.
Испытательная установка удобна в использовании и обладает лучшими возможностями анализа данных для тестирования различных типов силовых полупроводниковых приборов и силовых цепей. Программное обеспечение, разработанное компанией PONOVO, упрощает управление процессом испытаний. Программное обеспечение может быть настроено в соответствии с потребностями пользователей для удобства пользователя.
Технические особенности- Испытательная установка использует высокоскоростную цифровую систему управления на основе ПЛИС, которая осуществляет сбор данных аналоговых сигналов с нескольких измерительных источников, независимо и скоординировано управлять каждым модулем, и обеспечивает стабильный и надежный процесс испытаний.
- Синхронизированное управление одновременно несколькими источниками позволяет выполнять наблюдать и анализировать процессом испытаний в реальном времени и полностью автоматизировать испытания;
- Во избежание повреждения испытуемого полупроводникового компонента во время испытания имеется система защиты от перегрузки по току с высоким быстродействием на основе твердотельного ключа и задаваемом лимитом тока;
- Испытательная установка выполняет сбор и анализ получаемых данных с занесением их в таблицы измеренных параметров полупроводникового компонента. Автоматизация формирования протокола устраняет ошибки, возможные при ручном заполнении данных, а также упрощает выявление некачественных компонентов при входном контроле.
- Программное обеспечение позволяет настроить обработку данных в соответствии с потребностями пользователей, чтобы сделать их более наглядными.